البحث في المواصفات

Surface chemical analysis — Atomic force microscopy — Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size

نظرة سريعة

التفاصيل

ISO 14606:2022

مواصفة قياسية دولية

Surface chemical analysis — Sputter depth profiling — Optimization using layered systems as reference materials

نظرة سريعة

التفاصيل

ISO 18115-3:2022

مواصفة قياسية دولية

Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 3: Terms used in optical interface analysis

نظرة سريعة

التفاصيل

ISO 24417:2022

مواصفة قياسية دولية

Surface chemical analysis — Analysis of metallic nanolayers on iron based substrates by glow-discharge optical-emission spectrometry

نظرة سريعة

التفاصيل

ISO 17109:2022

مواصفة قياسية دولية

Surface chemical analysis — Depth profiling — Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films

نظرة سريعة

التفاصيل

ISO 17862:2022

مواصفة قياسية دولية

Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers

نظرة سريعة

التفاصيل

ISO 23170:2022

مواصفة قياسية دولية

Surface chemical analysis — Depth profiling — Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering

نظرة سريعة

التفاصيل

GSO ISO 11775:2021

ISO 11775:2015

مواصفة قياسية خليجية

التحليل الكيميائي السطحي -- الفحص المجهري بمسبار المسح -- تقدير ثوابت المرونة العادية للرافعة